简要描述：X荧光镀层测厚仪EDX，专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析、达克罗涂覆层分析的普及机型，可盲测（即：无需标准样品标定），即可对客户样品镀层膜厚测试、基材成分分析，降低客户购买标准样品（尤其是特殊样品）成本。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于工艺复杂材料的工厂镀层、涂层的制程控制。

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